BS 6493-3-1986 半导体器件.第3部分:机械和气候试验方法
作者:标准资料网
时间:2024-05-11 14:27:12
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【英文标准名称】:Semiconductordevices.Mechanicalandclimatictestmethods
【原文标准名称】:半导体器件.第3部分:机械和气候试验方法
【标准号】:BS6493-3-1986
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1986-01-31
【实施或试行日期】:1986-01-31
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40;L04
【国际标准分类号】:31_200;31_080_01
【页数】:94P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件.第3部分:机械和气候试验方法
【标准号】:BS6493-3-1986
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1986-01-31
【实施或试行日期】:1986-01-31
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40;L04
【国际标准分类号】:31_200;31_080_01
【页数】:94P;A4
【正文语种】:英语
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