DIN EN ISO 7590-2010 钢丝输送带.总厚度和涂层厚度的测量方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-03 21:00:47   浏览:8899   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Steelcordconveyorbelts-Methodsforthedeterminationoftotalthicknessandcoverthickness(ISO7590:2009);GermanversionENISO7590:2009
【原文标准名称】:钢丝输送带.总厚度和涂层厚度的测量方法
【标准号】:DINENISO7590-2010
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2010-03
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:涂层;输送带;盖板;定义;外部测微仪;测量;测量技术;光学测量;外形尺寸;钢丝绳;带条;试验设备;厚度;厚度测量
【英文主题词】:Coatings;Conveyorbelts;Coveringslabs;Definitions;Externalmicrometers;Measurement;Measuringtechniques;Opticalmeasurement;Overalldimensions;Steelcords;Straps;Testequipment;Thickness;Thicknessmeasurement
【摘要】:ThisInternationalStandardspecifiesthreemethodsforthemeasurementoftotalbeltthicknessandthethicknessofcoversofsteelcordconveyorbelts.MethodsA1andA2(micrometermethods)canbeusedforallsteelcordconveyorbeltsforthemeasurementofbothtotalbeltthicknessandcoverthickness.MethodB(opticalmethod)isrecommendedforthemeasurementofcoverthicknessonly.Itisnotsuitableifthereisatextileormetalweft,noriftheendsofthesteelcordsbecometwistedwhencut.
【中国标准分类号】:J81
【国际标准分类号】:53_040_20
【页数】:11P.;A4
【正文语种】:德语


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【英文标准名称】:Paperandboard-Specificationforinternaldiametersofcoresforreels(ISO13542:2006)EnglishversionofDINISO13542:2007-03
【原文标准名称】:纸张和纸板.卷轴芯的内径规范
【标准号】:DINISO13542-2007
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2007-03
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:纸板;卷毂;纸板箱;锥形筒子;容器;芯;直径;尺寸公差;尺寸;卷筒(物料装卸设备);内径;材料;物料装卸;材料试验;包装件;纸;卷筒;复卷管;规范;片盘;试验;公差(测量);卷绕管
【英文主题词】:
【摘要】:ThisInternationalStandardspecifiestheinternaldiametersandtolerancesforcoresrecommendedforgeneralusewithreelsofpaperandboardininternationaltrade.
【中国标准分类号】:Y30
【国际标准分类号】:85_060;85_080_30
【页数】:4P.;A4
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:StandardTestMethodforMeasuringFlatLengthonWafersofSiliconandOtherElectronicMaterials
【原文标准名称】:硅晶片及其他电子材料的平面长度测量的试验方法
【标准号】:ASTMF671-1999
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:1999
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F01.06
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:材料;电子工程;长度;垫圈;测量
【英文主题词】:flats;opticalcomparator;orientationflats;semiconductor;silicon
【摘要】:ThisstandardwastransferredtoSEMI(www.semi.org)May20031.1Thistestmethodcoverstechniquesfordeterminationofthelengthoftheflattedportionofawaferperiphery.1.2Thistestmethodisintendedprimarilyforuseonelect
【中国标准分类号】:H80
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:4P.;A4
【正文语种】: