IEC 60747-14-2-2000 半导体器件第14-2部分:半导体元件霍尔元件
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时间:2024-05-20 19:34:17
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Part14-2:Semiconductorsensors;Hallelements
【原文标准名称】:半导体器件第14-2部分:半导体元件霍尔元件
【标准号】:IEC60747-14-2-2000
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2000-11
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/SC47E
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:霍耳效应;测头;半导体器件;电子工程;光电子器件;传感器
【英文主题词】:Electronicengineering;Halleffect;Optoelectronicdevices;Semiconductordevices;Sensors
【摘要】:ThispartofIEC60747providesstandardsforpackagedsemiconductorHallelementswhichutilizetheHalleffect.
【中国标准分类号】:L15
【国际标准分类号】:31_080_99
【页数】:14P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件第14-2部分:半导体元件霍尔元件
【标准号】:IEC60747-14-2-2000
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2000-11
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/SC47E
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:霍耳效应;测头;半导体器件;电子工程;光电子器件;传感器
【英文主题词】:Electronicengineering;Halleffect;Optoelectronicdevices;Semiconductordevices;Sensors
【摘要】:ThispartofIEC60747providesstandardsforpackagedsemiconductorHallelementswhichutilizetheHalleffect.
【中国标准分类号】:L15
【国际标准分类号】:31_080_99
【页数】:14P;A4
【正文语种】:英语
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